光学膜厚仪利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。
光学膜厚仪的功能:
●采用了磁性测厚方法,可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度;
●可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准;
●可采用基本校准修正法对测头系统误差进行更新修正,保证仪器在测量过程中的准确性;
●负数显示功能,保证仪器零位点校准的准确性,提高测试精度;
●操作过程有蜂鸣声提示;
●两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式;
●电池电压指示:低电压提示;
●微功耗设计,在待机装态不到10微安的电流。
光学膜厚仪的特点:
A、精美整体式设计,携带方便;
B、金属测头,牢固,耐磨,更稳定;
C、人体工程学设计,操作舒适,可精准地放置于光滑、平坦的表面之上;
D、测试速度快,读数准确;
E、具有连续测试和单次测量两种测量方式;连续测试减少人为误差,让测量值更精准;
F、仪器可存贮116个测量数据;
G、四个统计功能:大小值、平均值、测量次数,按下TA键即可查阅;
H、可以连接电脑进行通信读出存贮数据进行保存或打印;
I、两种校准方式:零点校准和二点校准;
J、操作过程有蜂鸣声提示(单次测量方式);
K、自动识别铁基和非铁基底材;
L、低电压指示;
M、手动/自动关机功能;
N、高耐冲击ABS塑料外壳制成,非常适用于油漆有粉末涂层环境。