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膜厚仪的众多特点分别是什么

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膜厚仪能同时测量磁性基材表面的非磁性涂镀层,以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。
同时,测量数据可分组保存,并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校准,让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单,确保您非常容易的使用它。
 
膜厚仪的特点:
A.大点阵液晶屏,标准化菜单操作;
B.两种测量模式:单次和连续;
C.两种组模式:直接组和通用组,一个直接组和四个通用组。直接组关机后数据自动全部清除。通用组数据将自动保存,关机不丢失。每组可存储80个数据;
D.可零校准和多点校准。各组有单独的零校准和多点校准,组与组之间不影响;
E.用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除数据或整组数据;
F.实时显示当前工作组统计值:平均值,较小值,Max值,标准方差;
G.三种探头模式:自动、磁感应和涡流;
H.可为各组单独设置高低限报警值,超*屏幕指示报警;
I.可开启或关闭自动关机功能;
J.USB接口可传输通用组数据到计算机;
K.低电和错误提示。
 
膜厚仪可以测量较大5层重叠薄膜的厚度和折射率。
可测量如氧化物,氮化物,光阻,导电玻璃,聚合物和半导体薄膜等透明或半透明薄膜。

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